Назначение: ранняя диагностика (до появления жалоб), исследование и контроль опухолевых, сосудистых, воспалительных и других заболеваний человека на основе измерения естественного теплового излучения тела.

Ключевые слова: матричный тепловизор, СВИТ , тепловизор

URL: http://www.isp.nsc.ru/newface/index.php?ACTION=labs_view&id=156&lang=ru

Тепловизионная система 'СВИТ' предназначена для получения высококачественных изображений различных объектов в виде отображения тепловых полей (термограмм). Принцип действия системы основан на регистрации собственного теплового излучения объекта в инфракрасной области спектра (ИК) в диапазоне 2,65-3,1 мкм и последующей компьютерной обработке полученной информации. Без применения дополнительных фильтров система позволяет определять температуру поверхности объекта в области выше 200С, с предельной чувствительностью 0,007 С. Для охлаждения чувствительного элемента используется жидкий азот, при этом обеспечивается время выхода на рабочий режим не более 15 мин. и время непрерывной работы при однократной заливке жидкого азота не менее 12 часов. Применение системы 'СВИТ' в области медицины позволяет производить экспресс-диагностику и осуществлять раннее обнаружение различных заболеваний - воспалений, опухолей, поражений нервов и сосудов, других патологий без вмешательства в деятельность организма. Программное обеспечение системы позволяет задавать границы температурных зон при визуализации кадра и обеспечивает сохранение кадра как в специальном графическом формате, так и с включением в специальную <Карточку пациента>. В технической области применение системы обеспечивает снятие термограммы в течение короткого времени (порядка 0,05 сек.), что дает возможность при изучении распределения тепловых полей в газах, жидкостях и других объектах исследовать как быстропротекающие, так и стационарные процессы. Преимуществом системы является полное управление ее работы через компьютер, при этом программное обеспечение системы позволяет определять числовое значение температуры объекта 2 в любой точке, разницу температур между любыми двумя точками, вывод графика распределения температуры вдоль выбранного сечения теплограммы, получать представление термограмм в разных цветовых гаммах.

Ключевые слова: тепловизия, теплограмма

URL: http://www.sbras.nsc.ru/dvlp/rus/pdf/052.pdf

Автоматизированный спектрометр предназначен для регистрации в ближней и средней ИК области спектров поглощения твердых, жидких и газообразных веществ (в том числе наркотиков, лаков и красок, нефтепродуктов, взрывчатых веществ, фармакологических препаратов) с их последующей идентификацией, а также для качественного и количественного анализа смесей, содержащих несколько компонентов. Предлагается для использования в научно-исследовательских, экспертно-криминалистических, таможенных, учебных, производственных и экологических лабораториях.

К спектрометру «ФТ-801» дополнительно поставляются:

• универсальная приставка НПВО и ЗДО – для измерения объектов с размерами от 300 мкм, методом НПВО с ZnSe CVD и (или) Ge призмой, с визуализацией микрообъекта на мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения,
• приставка МНПВО (многократного нарушенного полного внутреннего отражения) для исследования жидких, пастообразных, твердых (в том числе, сыпучих) веществ;
• широкодиапазонный ИК микроскоп «МИКРАН» для исследования образцов размером от 20 мкм,
• микрофокусирующя приставка двух модификаций: с вертикальным расположением образца, а также с юстируемым столиком для регистрации спектров пропускания малых объектов произвольной формы с набором диафрагм-вкладышей от 1 мм,
• приставки зеркального и диффузного отражения с верхним и нижним расположением образца - 3 модели,
• жидкостные и газовые одно- и многопроходные кюветы, держатели образцов, сменные окна,
• комплект для прессовки микротаблеток
• мини-пресс для получения тонких слоев образца на стальных зеркальных подложках, что позволяет снимать спектры пропускания при двойном прохождении излучения через тонкий слой.

Прибор предназначен для прецизионного, высокопроизводительного и неразрушающего контроля оптических постоянных и толщин пленок в ростовых процессах в реальном масштабе времени. Принцип действия основан на измерении состояния поляризации света, отраженного от поверхности образца. Прибор позволяет проводить:  in-situ мониторинг ростовых (адсорбционных) процессов с чувствительностью < 0,001 монослоя;  контроль быстропротекающих ростовых (адсорбционных) процессов с временным разрешением до 40 микросекунд;  измерение толщин тонкопленочных слоев с погрешностью единиц ангстрем;  измерение показателей преломления и поглощения слоев с погрешностью 0,001;  измерение профиля состава синтезируемых многослойных гетероэпитаксиальных структур с погрешностью 0,002 в процессе роста.

Ключевые слова: Быстродействующий лазерный эллипсометр 'ПРОФИЛЬ-ИФП'

URL: http://www.sbras.nsc.ru/dvlp/rus/pdf/064.pdf

Система состоит из нескольких специализированных вакуумных камер: камеры загрузки-выгрузки пластин-подложек с кассетной загрузкой (2 кассеты по 10 пластин диаметром 102мм); камера эпитаксиального роста элементарных полупроводников (Si,Ge), металлических и диэлектрических слоев с электронно-лучевыми испарителями и плазменными источниками; камера для выращивания полупроводниковых соединений АЗВ5, A3N и А2В6 (с 6 или 8 молекулярными источниками) и аналитическая камера с ОЖЕ-спектрометром и автоматическим лазерным эллипсометром. Возможна комбинация рабочих камер в любом порядке. В комплекте с системой или отдельно могут поставляться тигли из пиролитического нитрида бора различных размеров; электронно-лучевые и ЭЦР - источники; электронный дифрактометр (ускоряющее напряжение до 30 кВ); электронно-лучевые испарители; система <Фотон-микро> для регистрации дифракционных картин и анализа их интенсивности; лазерный эллипсометр для измерения оптических параметров и толщины тонкопленочных структур в процессе их получения.

Ключевые слова: Сверхвысоковакуумная система 'КАТУНЬ', молекулярная эпитаксия

URL: http://www.sbras.nsc.ru/dvlp/rus/pdf/061.pdf

Микроканальная пластина (МКП) - элемент оптических и электромеханических устройств различного функционального назначения, представляет собой регулярную систему микроканалов квадратного сечения с вертикальными стенками, длина которых достигает сотен микрометров, а поперечные размеры лежат в диапазоне единиц и десятков микрометров. МКП изготавливается из монокристаллического полупроводникового кремния с применением технологических процессов микроэлектроники и электрохимии. Исходная базовая структура состоит из кремния (кремниевая МКП - Si-МКП); последующая - включает в себя поверхностный диэлектрический слой двуокиси кремния, SiO2/Si-МКП; и, наконец, кварцевая МКП, SiO2-МКП, полностью состоит из SiO2. Область применения определяется функционализацией поверхности этих МКП.

Ключевые слова: Кремниевые и кварцевые микроканальные пластины

URL: http://www.sbras.nsc.ru/dvlp/rus/pdf/366.pdf

Эллипсометр 'МИКРОСКАН-М' предназначен для измерения оптических параметров поверхности микрообъектов и исследования поверхностных микроструктур с высоким временным разрешением. Принцип действия прибора основан на измерении состояния поляризации света, отраженного от поверхности образца с последующим определением на основе этих измерений оптических параметров поверхности и пленочных структур.

Ключевые слова: эллипсометр, Микроскан-М, Сканирующий эллипсометр

URL: http://www.sbras.nsc.ru/dvlp/rus/pdf/330.pdf