Конференции ИВТ СО РАН

VII Всероссийская конференция молодых ученых по математическому моделированию и информационным технологиям (с участием иностранных ученых)

1-3 ноября 2006 года, Красноярск, Россия

Тезисы докладов

Математическое моделирование

Оценка показателей надежности с учетом термического разложения полимерных составляющих узлов радиоэлектроники

Кравченко Е.В.

ТУСУР (Томск)

Успехи современной зарубежной радиоэлектронной отрасли связаны с освоением новых материалов. Без таких материалов (пластмассы, компаунды, различного рода текстолиты) трудно представить и реализовать более или менее сложное радиотехническое устройство. Также использование композиционных материалов согласуется с концепцией развития радиоэлектроники в целом, которая характеризуются стремлением к: 1) снижению массы и размеров изделий; 2) повышению энергетических характеристик; 3) повышению надежности работы конкретных изделий [1,2].

В силу данных тенденций развития радиоэлектроники происходит увеличение интеграции различного рода ЭРЭ, что в свою очередь ведет к повышению тепловыделения, как отдельных элементов, так и функциональных узлов, блоков и т.д. С одной стороны, это приводит к повышению энергетических характеристик производимого радиоэлектронного оборудования, но с другой стороны уменьшаются показатели надежности. Помимо этого, в [3] отмечен факт резкого увеличения количества отказов интегральных микросхем из-за дефектов корпусов, выполненных на основе полимерных материалов—пластмасс, и кристаллов. А дефекты такого рода в значительной степени обусловлены температурной неоднородностью и температурными напряжениями [4].

Целью данной работы являлся анализ характеристики надежности узлов радиоэлектроники с применением пространственной теплофизической модели при учете процессов деградации компонентов, выполненных из композиционных полимерных материалов.

Проведенный анализ показал обоснованность используемых математических моделей и необходимость учета процессов деградации элементов выполненных из полимерных композиционных материалов при определении характеристик надежности РЭА.

Список литературы.
1.Новые материалы / Под ред. Ю.С.Карабасова. — М.: МИСИС, 2002. – 736с.
2. Методы расчета теплового режима приборов / Г.Н. Дульнев, В.Г. Парфенов, А.В. Сигалов. – М.: Радио и связь, 1990. – 312 с.: ил.
3. Борисов А. А., Горбачева В. М., Карташов Г. Д., Мартынова М. Н., Прытков С. Ф. Надежность зарубежной элементной базы // Зарубежная радиоэлектроника. 2000, N 5, с.34-53.
4. Алексеев В.П., Кузнецов Г.В., Шлома С.В. О влиянии неоднородности температурного поля на надежность электрорадиоизделий // Успехи современной радиоэлектроники, 2003, N 7, с. 48-54.

Примечание. Тезисы докладов публикуются в авторской редакции

Ваши комментарии
Обратная связь

[Головная страница]
[Конференции]